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  • 應力雙折射測量係統WPA係列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體製造技術開發的產品,獨特的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量,全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。
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